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Bressiani, J. C. et al. Espumas cerâmicas obtidas a partir da pirólise de polissiloxano e carga ativa de Al e Si. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CERÂMICA, 47., 2003, João Pessoa. Anais... João Pessoa, 2003.
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Resumo

Espumas cerâmicas possuem propriedades únicas que as qualificam tanto para aplicações estruturais como funcionais. Estas propriedades são influenciadas pela densidade relativa e morfologia. Cerâmicas porosas de células abertas no sistema Si-Al-O-C-N, apresentando diferentes densidades e morfologias, foram obtidas a partir da pirólise de misturas de polimetilssiloxano (PMS) e carga ativa de alumínio e silício. Quatro composições foram preparadas com a concentração em volume de PMS variando de 100 a 60% e a de Al e Si fixada numa razão de 1:1. Os pós foram misturados e prensados em forma de pastilhas, que foram submetidas a irradiação com feixe de elétrons com dose de 5 MGy. A pirólise foi realizada em atmosfera de N2 a 1500°C/1h. As espumas produzidas apresentam boa estabilidade dimensional, contendo fase amorfa de oxicarbeto de silício (Si-O-C) e fases cristalinas como SiC e SiAlON, conforme análise por difração de raios X e microscopia eletrônica de transmissão (MET).

Abstract

Ceramic foams posses a unique set of properties which make them good candidates for both structural and functional applications. The properties are influenced by their relative density and morphology. Open-cell porous ceramics in the Si-Al-O-C-N system were obtained from the pyrolysis of a polymethylsiloxane, aluminium and silicon mixture. Four compositions were prepared varying the polymer amount from 60 to 100 %vol and the rate of Al and Si fixed in 1:1. Powders were mixtured, pressed in pellets and put to react under ionising radiation of a electron beam with a dose of 5 MGy. The pyrolysis were carried out at 1400 ºC/1h in a nitrogen atmosphere. The obtained foams show good dimensional stability, containing silicon oxycarbide (SiOC) amorphous phase and crystalline phases such as SiC and SiAlON, according to X ray diffraction and transmission electron microscopy investigations.
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