Mais informações

HWANG, R. L. et al. Análise microestrutural de PbTe obtido por HWE. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CERÂMICA, 43., CONGRESSO DE CERÂMICA DO MERCOSUL, 4., 1999, Florianópolis. Anais… Florianópolis, 1999.
Clique no nome do(s) autor(es) para ver o currículo Lattes:

Dados do autor na base InfoHab:
Número de Trabalhos: 2 (Nenhum com arquivo PDF disponível)
Citações: 2
Índice h: 1  
Co-autores: 10

Dados do autor na base InfoHab:
Número de Trabalhos: 2 (Com arquivo PDF disponíveis: 2)
Citações: 2
Índice h: 1  
Co-autores: Nenhum co-autor encontrado

Dados do autor na base InfoHab:
Número de Trabalhos: 1 (Nenhum com arquivo PDF disponível)
Citações: Nenhuma citação encontrada
Índice h: Indice h não calculado  
Co-autores: Nenhum co-autor encontrado

Resumo

Neste trabalho, foram analisados filmes de PbTe crescidos em substrato de BaF2 (111) e Si (100) por HWE, visando sua utilização em detetores fotossensíveis operante na região do infravermelho. Através das técnicas de difração de raios-X e microscopia, foi estudado o processo de crescimento, observando-se a qualidade do filme quanto à cristalinidade, orientação das camadas, defeitos superficiais, morfologia e espessura do filme. Normalmente, os filmes para detetores são finos (da ordem de 1µm), contudo também foram crescidos filmes mais espessos para facilitar o companhamento do comportamento do material durante a preparação de amostras para microscopia eletrônica de transmissão (MET), tendo com isso que serem alterados o tempo e as temperaturas para o crescimento.
-